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chroma 58173-FC LED自動測試系統(tǒng)，主要特色：提供*電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)148度)半自動精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備特殊無鉆孔真空平臺設(shè)計(jì)特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定
chroma 58154 ESD 測試系統(tǒng)，主要特色：提供兩種ESD 測試標(biāo)準(zhǔn) : Human body model and Machine model用戶自定項(xiàng)目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 測試系統(tǒng)，主要特色：可量測白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動影像辨識功能杰出之光學(xué)量測表現(xiàn)成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺
chroma 58183 LED Light Bar 電性測試系統(tǒng)，主要特色：微電流供應(yīng)與量測PC設(shè)計(jì)之架構(gòu)支持多任務(wù)量測，使用者可一次設(shè)定多組測試項(xiàng)目進(jìn)行量測多支持4組外加控制盒使用Chroma通用L/B接線治具，可更廣泛接取各種LED燈條進(jìn)行測試軟件具權(quán)限設(shè)定與管理之功能
chroma 7935 晶圓檢測系統(tǒng) 主要特色：大可檢測8“ 晶圓 (檢測區(qū)域達(dá)10“ 范圍 )可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項(xiàng)目上片后晶圓對位機(jī)制自動尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規(guī)格編輯器可讓使用者自行編輯檢測規(guī)格影像辨識成功率高達(dá) 98%可結(jié)合上游測試機(jī)晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設(shè)備提供檢測報(bào)表編輯器，使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測器等產(chǎn)
chroma IS-SA 材料散射測量系統(tǒng)，主要特色：一次量測可快速取得所有角度的資料全面及自動化的控制照明光源的角度廣泛的光源和樣品控制配置選項(xiàng)易於使用的控制和分析軟件數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出在光學(xué)設(shè)計(jì)和模擬工具軟件
chroma VisionCAL LED顯示屏校正系統(tǒng)，主要特色：Complete measurement system for LED video panel correctionProMetric Imaging Colorimeter measures the brightness and color of all LEDs in the screenVision
chroma 8200 開關(guān)電源自動測試系統(tǒng) 主要特色：測試程式編輯功能測試報(bào)告編輯功能使用者權(quán)限設(shè)定測試項(xiàng)目/程式控管功能人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄廣泛的模組化硬體以提供高準(zhǔn)確及重覆量測經(jīng)由系統(tǒng)預(yù)設(shè)測試項(xiàng)目，可提高測試生產(chǎn)率佳成本效益比圖形介面Windows 98/NT/2000以上的作業(yè)環(huán)境
