Yokogawa橫河 AQ6374 寬范圍光譜分析儀

Yokogawa橫河 AQ6374 寬范圍光譜分析儀 品牌介紹

產品特點

1. 超寬波長覆蓋：測量范圍 350nm-1750nm，單次掃描覆蓋可見光至光通信全波段，滿足跨領域多場景測量需求Yokogawa。

2. 高精度測量性能：波長精度 ±0.05nm， 波長分辨率 2pm，近旁動態范圍 60dB（峰值 ±1.0nm），精準捕捉激光側模、譜線細節等關鍵特性Yokogawa。

3. 寬功率測量量程：支持 + 20dBm 至 - 80dBm 功率測量，適配高功率激光源與低功率光信號的同步測試。

4. 快速測量效率：100nm 波長跨度測量僅需 0.5 秒（NORM_AUTO 靈敏度模式），搭配 100001 個采樣點，實現寬范圍、高分辨率的高效掃描。

5. 豐富分析功能：內置 WDM（OSNR）、DFB-LD、光纖放大器、LED、譜寬等 16 種專項分析，支持多曲線顯示與數據記錄，適配多樣化測試場景。

6. 便捷操作與擴展：配備 4 個 USB 接口，支持外接設備；具備宏編程與遠程控制功能，可實現自動化測量與系統集成。

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產品規格

應用場景

1. 光通信器件研發與生產：用于 DFB-LD、FP-LD、VCSEL、光纖放大器、WDM 器件、光收發器等有源 / 無源器件的光譜特性、OSNR、SMSR 等參數測試與評估。

2. 激光技術研究：半導體激光器、光纖激光器的譜線寬度、側模抑制比、波長穩定性等核心性能分析，助力激光器件優化設計Yokogawa。

3. 光學材料與器件測試：光學濾波器、光纖、光學涂層等材料的光譜透過率、反射率測量，支撐材料研發與質量管控。

4. 系統性能驗證：光傳輸系統、光傳感系統的光譜信號分析，保障系統傳輸質量與穩定性，適配實驗室研發與產線批量測試場景。