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| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池 |
DSA8300/DSA8200 泰克 數字采樣示波器
DSA8300/DSA8200 泰克 數字采樣示波器
超寬頻帶采集：電接口帶寬 > 70GHz，光接口帶寬 > 80GHz，覆蓋主流高速電 / 光信號測試需求。
超低抖動性能：8 通道同步采集時基抖動典型值 425fs；搭配 82A04B 相位參考模塊，6 通道抖動 < 100fs。
高垂直分辨率：16 位模數轉換器，電接口分辨率 < 20μV LSB（1V 全量程），光接口分辨率低至 < 20nW，精準捕捉微弱信號。
模塊化靈活架構：6 個模塊插槽，支持電 / 光采集、時鐘恢復、相位參考等模塊混插，單臺最多 8 通道同步采集。
集成化測量能力：內置 TDR 測量（典型邊沿 10ps）、S 參數分析、眼圖 / 抖動 / BER/TDECQ/SNDR 分析，支持 120 + 自動測量與 80 + 標準模板測試。
高速信號適配：支持 NRZ、RZ、PAM4 信號，覆蓋 155Mb/s 至 400G 高速通信標準，適配光模塊與高速電接口測試。
高測試吞吐量：TDR 模式下每通道采樣率最高 300kS/s，支持 IEEE-488、以太網編程接口，提升自動化測試效率。
帶寬：電接口 > 70GHz；光接口 > 80GHz
垂直分辨率：16 位 ADC；電接口 < 20μV LSB（1V 量程）；光接口 < 20nW~<0.6μW（依模塊而定）
時基抖動：8 通道同步采集典型 425fs；相位參考模式 6 通道 < 100fs
通道數：單臺主機最多 8 通道同步采集
采樣率：TDR 模式每通道最高 300kS/s；其他模式最高 200kS/s
模塊插槽：6 個，支持電 / 光采集、時鐘恢復、相位參考等模塊
測量功能：TDR 阻抗 / 不連續性分析、S 參數、眼圖、抖動、噪聲、BER、TDECQ、SNDR、模板測試
接口：前面板觸發輸入、IEEE-488、以太網、本地處理器接口
高速光通信測試：100G/400G 光模塊、收發器的眼圖、TDECQ、SNDR 測試，及 155Mb/s~400G 光接口一致性驗證。
高速電信號完整性：PCIe、USB4、DDR、背板、高速 PCB、連接器的阻抗、串擾、傳輸時延與信號質量測試。
半導體器件驗證：高速 ASIC、FPGA、PHY 芯片的發射機信號質量、眼圖、抖動與 PAM4 信號分析。
TDR 與 S 參數測量：高速傳輸線、射頻器件、濾波器的阻抗、不連續性定位與 S 參數時域 / 頻域分析。
通信標準一致性：ITU、ANSI、IEEE、SONET/SDH 等高速通信標準的制造與一致性測試。
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